반도체 검사기술 해외 유출…전직 직원 3명 구속·기소

국내 반도체 검사장비 기업의 핵심 기술을 해외로 빼돌린 전직 직원 3명이 재판에 넘겨졌다. 지식재산처 기술유출특별사법경찰과와 대전지방공소청 중대범죄기소2부는 피해기업의 반도체 검사 핵심기술을 해외 생산에 사용한 혐의로 전직 직원 A(45)씨를 구속 기소하고, B(40)씨와 C(40)씨를 불구속 기소했다고 14일 밝혔다. 기술경찰이 해외 기술유출 사범을 구속해 공소청이 기소한 첫 사건이다.

A씨 등은 2023년 11월부터 2026년 2월까지 피해기업의 현지 유통을 맡던 해외 유통기업과 공모해 해외 제조기업을 세우고, 피해기업의 설계도면과 기술자료를 사용해 제품을 생산·공급한 혐의를 받는다. 이들은 피해기업을 떠나 해외로 달아난 D(58)씨의 제안을 받아 기존 연봉의 2배를 조건으로 2023년 11월 해외 제조기업으로 옮긴 것으로 조사됐다. 이들이 피해기업 기술로 만든 시제품을 해외에 공급한 것은 2025년 12월이다.

문제가 된 프로브카드 기술은 반도체 칩의 불량 여부를 웨이퍼 상태에서 검사하는 장비에 쓰인다. 미국과 일본 기업이 시장을 선점해 온 분야로, 피해기업은 국산화에 성공한 데 이어 고대역폭 메모리(HBM) 검사용 장비까지 개발해 국내외 주요 반도체 대기업에 공급해 왔다. 피해기업은 이번 범행으로 해외 시장을 잃을 경우 연간 400억 원의 매출 손실이 발생할 것으로 추산하고 있다.

수사는 국가정보원의 첩보로 시작됐다. 기술경찰은 2025년 7월 수사에 착수했지만 A씨 등이 해외에 체류하고 있어 진척이 어려웠다. 국가정보원과 공조해 이들이 세운 해외 제조기업이 조달과 설계를 위해 국내 공급망을 이용한다는 정황을 포착한 기술경찰은 2026년 7월 국내 설계기업을 압수수색해 피해기업의 설계도면과 기술자료를 확보했다. 확보한 자료는 피해기업의 회사명 등 출처가 지워지거나 해외 제조기업의 자료처럼 다시 편집돼 있어 겉으로는 구분이 어려웠지만, 반도체 업계 연구·개발 경험이 있는 전문 수사관과 2026년 6월 증원된 인력을 투입해 출처가 삭제된 자료가 피해기업 기술을 바탕으로 작성·변형됐다는 사실을 밝혀냈다.

정연우 지식재산처 차장은 "기업의 핵심기술이 국외로 유출되면 돌이킬 수 없기에 기술유출 사범을 검거하는 것도 중요하지만, 기술유출을 사전에 차단하는 것이 더욱 중요하다"고 말했다. 이어 "철저한 수사로 국외 기술 유출범죄에 엄정히 대응하는 한편, 사전유출 차단을 위해 해외 기술유출에 대한 처벌수위 강화 및 범행에 가담한 해외기업도 처벌할 수 있게 제도 개선도 함께 추진해 나가겠다"고 밝혔다.

기술경찰은 해외에 체류하며 수사를 피하고 있는 주범 D씨(피해회사 전직 임원)에 대해 인터폴 적색수배를 요청했고, 신병이 확보되는 대로 수사를 이어갈 예정이다.